快速扫描测量系统

简述：

快速扫描测量系统整合了TSL 可调谐激光器、MPM 光功率计、PCU 偏振控制器及根据用户需求自定义的软件，为R&D 及生产环境的IL、WDL、PDL 测试提供快速、多功能、全自动的平台。系统同时采集可调谐光源的输出功率及DUT 透过的光功率作实时参比，获取高精度的IL、WDL 以及PDL（采用Muller 矩阵方法）。

品牌：

日本 Santec

产品型号：

快速扫描测量系统

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性能优势

• 实时功率参考：高精度的WDL/PDL 测试

- 功率可重复性<±0.02dB

- PDL 可重复性＜ ±0.01dB

• 缩放运算：高波长精度/ 节省测量时间

• 支持多通道测量

• 支持图形介面软件及编程接口（DLL）

主要应用

• 器件和模块光学特性测试：

- 可调谐滤波器，插入器，FBG，

耦合器，分光器，隔离器，开关 .....

- WSS 及波长阻断器

- DWDM 器件

• 硅光子材料表征，包括微腔环形谐振器

• 光谱

• 干涉测量

配置

多站测试

多站测试中，TSL、PCU与MCU 构成一个服务中心，分发触发信号及光束到不同的测试站。每个测试站包括功率计和客户端PC。在运行过程中，TS持续的扫频，使得每个测试站可以独立而并行地工作。多站测试架构极大提升了高精度测量与分析的效率。

测试示例